sem怎么看晶粒尺寸

关于这个问题，SEM可以使用电子后散射（EBSD）技术来观察晶粒尺寸。EBSD是一种通过扫描电子显微镜来研究多晶材料晶粒结构的技术。通过对样品进行电子束轰击，可以在样品表面产生散射电子，这些电子的角度和能量可以提供有关晶粒结构和取向的信息。通过对这些数据进行分析，可以确定晶粒尺寸和方向。

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建议取少量样品溶于超纯水或无水乙醇，超声30min，再滴在硅片上，试一试。最好用TEM看看晶粒上Ni的分布。