1. 帕莱克角度头是一种用于测量光学元件表面形貌的设备。
2. 它的原理是利用干涉仪的干涉条纹，通过计算干涉条纹的相位差来确定被测表面的高度差。
帕莱克角度头的精度高、测量速度快、适用范围广，因此在光学元件制造和检测中得到广泛应用。
3. 帕莱克角度头的应用不仅局限于光学领域，还可以用于测量其他表面形貌，如机械零件、半导体器件等。
同时，随着科技的不断进步，帕莱克角度头的精度和测量范围也在不断提高，未来将有更广泛的应用前景。
帕莱克角度头介绍
帕莱克角度头是一种Wavetronix公司的交通监测器，用于测量道路上车辆的速度、长度、密度、流量和运动方向。
它通过发射雷达波束来收集数据，并且可以提供实时的交通流数据来帮助交通管理人员做出决策。
与传统的交通监测方法相比，帕莱克角度头的优势在于它可以在任何气象条件下进行数据收集，并且对于复杂的城市道路情况也可以进行准确的交通监测。
此外，帕莱克角度头还具有自适应性能，能够自动识别和适应路面情况和交通流量变化。